系统调试方法、系统调试装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911189317.3

申请日：

2019-11-28

公开(公告)号：

CN110864401B

公开(公告)日：

2020-03-06

发明(设计)人：

王文洁黄松斌应必业卢艳军

申请人：

申请人地址：

315191 浙江省宁波市鄞州区姜山镇明光北路1166号

IPC主分类号：

F24F1146

IPC分类号：

F24F1164 F24F1186 F24F1184 F24F1177

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

周天宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-03	授权	授权
2020-03-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):F24F 11/46 申请日:20191128
2020-03-06	公开	公开

共 50 条

[1] 调试方法、调试装置、调试系统、存储介质及产品 [P].

褚郁诚 .

中国专利 :CN119025217A ,2024-11-26

[2] 调试装置、调试方法以及存储介质 [P].

太田友博 ;

加藤祯笃 ;

神山刚 ;

中西孝行 ;

浅野浩一 .

中国专利 :CN105493048B ,2018-06-01

[3] MCU调试装置及调试方法、存储介质、调试器 [P].

裴亚涛 .

中国专利 :CN117453465A ,2024-01-26

[4] 产品调试方法、调试装置及可读存储介质 [P].

刘现朋 .

中国专利 :CN111061630A ,2020-04-24

[5] 调试方法、装置、系统及存储介质 [P].

尚乐 .

中国专利 :CN111475416B ,2024-03-19

[6] 调试方法、装置、系统及存储介质 [P].

尚乐 .

中国专利 :CN111475416A ,2020-07-31

[7] 系统调试装置及方法 [P].

李滔 .

中国专利 :CN109885486A ,2019-06-14

[8] 调试方法、调试装置、电子设备及存储介质 [P].

肖俊阳 ;

罗金阁 ;

马伟哲 ;

吴新 ;

袁国权 ;

刘义胜 ;

曾通 .

中国专利 :CN118264641A ,2024-06-28

[9] 调试方法、调试装置、电子装置和存储介质 [P].

谢田 ;

赵悦 .

中国专利 :CN113760759A ,2021-12-07

[10] 一种调试方法、调试系统及存储介质 [P].

王志浩 .

中国专利 :CN110022245A ,2019-07-16

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