产品调试方法、调试装置及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911188646.6

申请日：

2019-11-26

公开(公告)号：

CN111061630A

公开(公告)日：

2020-04-24

发明(设计)人：

刘现朋

申请人：

申请人地址：

261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

胡海国

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20191126
2020-04-24	公开	公开

共 50 条

[1] 调试方法、调试装置、调试系统、存储介质及产品 [P].

褚郁诚 .

中国专利 :CN119025217A ,2024-11-26

[2] 调试方法和调试装置及计算机可读存储介质 [P].

关富文 ;

唐政清 ;

董玉红 .

中国专利 :CN108180599B ,2018-06-19

[3] 调试装置、调试方法以及存储介质 [P].

太田友博 ;

加藤祯笃 ;

神山刚 ;

中西孝行 ;

浅野浩一 .

中国专利 :CN105493048B ,2018-06-01

[4] 调试方法、调试装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈若璇 ;

赖全鹏 ;

徐逸之 ;

吕铮 ;

郑锦山 .

中国专利 :CN120086114A ,2025-06-03

[5] 虚拟实体调试方法、实体调试装置及计算机可读存储介质 [P].

韩伟华 ;

谭文锋 ;

曾良峰 ;

李晓五 ;

刘永吉 ;

席晓锋 ;

胡善义 ;

叶晏辰 .

中国专利 :CN110083074A ,2019-08-02

[6] MCU调试装置及调试方法、存储介质、调试器 [P].

裴亚涛 .

中国专利 :CN117453465A ,2024-01-26

[7] 光学模组调试装置、方法及计算机可读存储介质 [P].

黄琴华 .

中国专利 :CN114255224A ,2022-03-29

[8] 光学模组调试装置、方法及计算机可读存储介质 [P].

黄琴华 .

中国专利 :CN114255224B ,2024-10-29

[9] 程序调试方法、装置及可读存储介质 [P].

卢俊明 ;

陈建发 .

中国专利 :CN114077538A ,2022-02-22

[10] 价签基站多串口切换调试装置、调试方法及计算机可读存储介质 [P].

蒋权 .

中国专利 :CN112418367B ,2024-05-17

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