调试装置、调试方法以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480047777.1

申请日：

2014-08-15

公开(公告)号：

CN105493048B

公开(公告)日：

2018-06-01

发明(设计)人：

太田友博加藤祯笃神山刚中西孝行浅野浩一

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G06F1128

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

李辉;黄纶伟

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-31	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 11/28 申请日:20140815 授权公告日:20180601 终止日期:20190815
2018-06-01	授权	授权
2016-05-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101659560356 IPC(主分类):G06F 11/28 专利申请号:2014800477771 申请日:20140815

共 50 条

[1] 调试方法以及调试装置 [P].

李孝明 ;

张钰勃 ;

杨上山 ;

余德军 .

中国专利 :CN115098402B ,2022-09-23

[2] 产品调试方法、调试装置及可读存储介质 [P].

刘现朋 .

中国专利 :CN111061630A ,2020-04-24

[3] 调试方法、调试装置、调试系统、存储介质及产品 [P].

褚郁诚 .

中国专利 :CN119025217A ,2024-11-26

[4] 调试方法、调试装置、电子装置和存储介质 [P].

谢田 ;

赵悦 .

中国专利 :CN113760759A ,2021-12-07

[5] MCU调试装置及调试方法、存储介质、调试器 [P].

裴亚涛 .

中国专利 :CN117453465A ,2024-01-26

[6] 调试方法和调试装置及计算机可读存储介质 [P].

关富文 ;

唐政清 ;

董玉红 .

中国专利 :CN108180599B ,2018-06-19

[7] 滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质 [P].

丁一 ;

李雷 ;

闻家毅 ;

周鑫宇 ;

李绍辉 ;

欧新菊 .

中国专利 :CN114597623B ,2024-03-19

[8] 调试方法、调试装置、电子设备及存储介质 [P].

肖俊阳 ;

罗金阁 ;

马伟哲 ;

吴新 ;

袁国权 ;

刘义胜 ;

曾通 .

中国专利 :CN118264641A ,2024-06-28

[9] 滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质 [P].

丁一 ;

李雷 ;

闻家毅 ;

周鑫宇 ;

李绍辉 ;

欧新菊 .

中国专利 :CN114597623A ,2022-06-07

[10] 调试卡以及调试装置 [P].

彭章龙 .

中国专利 :CN113820550A ,2021-12-21

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