一种金属表面缺陷检测装置的金属碎屑清除机构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010767844.4

申请日：

2020-08-03

公开(公告)号：

CN111871885A

公开(公告)日：

2020-11-03

发明(设计)人：

何井芳姚惠忠

申请人：

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区长河街道滨安路650号1幢十七层1710室

IPC主分类号：

B08B100

IPC分类号：

B08B104 F16N100 G01N3320

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B08B 1/00 申请日:20200803

共 50 条

[41] 基于电化学无损检测装置的金属表面缺陷检测方法 [P].

高志明 ;

刘晓玉 ;

胡文彬 ;

夏大海 ;

修妍 ;

刘永长 .

中国专利 :CN107389753A ,2017-11-24

[42] 一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置及方法 [P].

高志明 ;

刘晓玉 ;

夏大海 ;

修妍 ;

胡文彬 ;

刘永长 .

中国专利 :CN105319248A ,2016-02-10

[43] 一种金属表面镀层清除装置 [P].

陈旭阳 ;

陈凯阳 ;

陈海诚 .

中国专利 :CN215879077U ,2022-02-22

[44] 金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

田亮 ;

杨振宇 ;

秦璐 ;

张征宇 ;

李华 .

中国专利 :CN118446972A ,2024-08-06

[45] 金属表面缺陷微波无损检测装置及其检测方法 [P].

段滋华 ;

李艳萍 ;

杨晨 ;

马海桃 ;

何银凤 ;

王世乾 ;

姚远 .

中国专利 :CN102253058A ,2011-11-23

[46] 金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

田亮 ;

杨振宇 ;

秦璐 ;

张征宇 ;

李华 .

中国专利 :CN118446972B ,2024-10-29

[47] 一种金属表面缺陷测量系统 [P].

杨长辉 ;

梁举科 ;

李晖 .

中国专利 :CN207074179U ,2018-03-06

[48] 基于深度学习的金属表面缺陷检测方法 [P].

邓晓衡 ;

李海霞 ;

赵德政 ;

刘良知 .

中国专利 :CN111523540A ,2020-08-11

[49] 一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法 [P].

虞益挺 ;

裘晔 ;

周俊焯 ;

厉奔 ;

郝佳 ;

姚鑫玲 .

中国专利 :CN119915825A ,2025-05-02

[50] 一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

胡广华 ;

何文亮 ;

涂千禧 ;

王清辉 ;

焦安强 .

中国专利 :CN115439408B ,2025-07-08

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