金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410517080.1

申请日：

2024-04-28

公开(公告)号：

CN118446972A

公开(公告)日：

2024-08-06

发明(设计)人：

田亮杨振宇秦璐张征宇李华

申请人：

北京海云捷迅科技股份有限公司

申请人地址：

100000 北京市海淀区知春路106号太平洋国际大厦11层1101室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/44 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0455

代理机构：

北京同进知识产权代理事务所(普通合伙) 16144

代理人：

刘冀

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-29	授权	授权
2024-08-06	公开	公开
2024-08-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240428

共 50 条

[1] 金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

田亮 ;

杨振宇 ;

秦璐 ;

张征宇 ;

李华 .

中国专利 :CN118446972B ,2024-10-29

[2] 金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

熊志红 ;

朱峰 ;

郑思温 .

中国专利 :CN119125301A ,2024-12-13

[3] 金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

熊志红 ;

朱峰 ;

郑思温 .

中国专利 :CN119125301B ,2025-01-17

[4] 一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

胡广华 ;

何文亮 ;

涂千禧 ;

王清辉 ;

焦安强 .

中国专利 :CN115439408B ,2025-07-08

[5] 一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

胡广华 ;

何文亮 ;

涂千禧 ;

王清辉 ;

焦安强 .

中国专利 :CN115439408A ,2022-12-06

[6] 金属表面的表面缺陷统计方法、装置以及存储介质 [P].

杨振宇 ;

张征宇 ;

李华 ;

田亮 .

中国专利 :CN118392872A ,2024-07-26

[7] 金属表面的表面缺陷统计方法、装置以及存储介质 [P].

杨振宇 ;

张征宇 ;

李华 ;

田亮 .

中国专利 :CN118392872B ,2025-01-21

[8] 一种金属表面缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

李澄非 ;

潘海欣 ;

蔡嘉伦 ;

邱世汉 ;

梁辉杰 ;

董超俊 ;

冯跃 ;

梁淑芬 ;

邓辅秦 .

中国专利 :CN112634219A ,2021-04-09

[9] 一种金属表面缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

李澄非 ;

潘海欣 ;

蔡嘉伦 ;

邱世汉 ;

梁辉杰 ;

董超俊 ;

冯跃 ;

梁淑芬 ;

邓辅秦 .

中国专利 :CN112634219B ,2024-02-20

[10] 金属表面缺陷检测方法及系统 [P].

高增禄 ;

曾纪光 ;

张涛 ;

夏勇俊 ;

陈龙 .

中国专利 :CN111879789A ,2020-11-03

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