金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411604250.6

申请日：

2024-11-12

公开(公告)号：

CN119125301B

公开(公告)日：

2025-01-17

发明(设计)人：

熊志红朱峰郑思温

申请人：

深圳仕上电子科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区晖信工业园B栋厂房1层2层、4层

IPC主分类号：

G06T7/40

IPC分类号：

G01N27/90 G06T7/00 G06N3/0464 G06T7/11 G06T7/136 G06V10/44 G06V10/80

代理机构：

深圳中细软知识产权代理有限公司 44528

代理人：

袁文英

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-17	授权	授权
2024-12-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/90申请日:20241112
2024-12-13	公开	公开

共 50 条

[1] 金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

熊志红 ;

朱峰 ;

郑思温 .

中国专利 :CN119125301A ,2024-12-13

[2] 一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

胡广华 ;

何文亮 ;

涂千禧 ;

王清辉 ;

焦安强 .

中国专利 :CN115439408B ,2025-07-08

[3] 金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

田亮 ;

杨振宇 ;

秦璐 ;

张征宇 ;

李华 .

中国专利 :CN118446972A ,2024-08-06

[4] 一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

胡广华 ;

何文亮 ;

涂千禧 ;

王清辉 ;

焦安强 .

中国专利 :CN115439408A ,2022-12-06

[5] 金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

田亮 ;

杨振宇 ;

秦璐 ;

张征宇 ;

李华 .

中国专利 :CN118446972B ,2024-10-29

[6] 分阶段金属表面缺陷检测方法、系统、介质、设备及应用 [P].

张建龙 ;

刘池帅 ;

崔梦莹 ;

王斌 ;

李桥 ;

何建辉 ;

郭鑫宇 ;

时国强 ;

方光祖 ;

余鑫城 .

中国专利 :CN112633327A ,2021-04-09

[7] 一种金属表面缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

李澄非 ;

潘海欣 ;

蔡嘉伦 ;

邱世汉 ;

梁辉杰 ;

董超俊 ;

冯跃 ;

梁淑芬 ;

邓辅秦 .

中国专利 :CN112634219A ,2021-04-09

[8] 一种金属表面缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

李澄非 ;

潘海欣 ;

蔡嘉伦 ;

邱世汉 ;

梁辉杰 ;

董超俊 ;

冯跃 ;

梁淑芬 ;

邓辅秦 .

中国专利 :CN112634219B ,2024-02-20

[9] 金属表面缺陷检测方法及系统 [P].

高增禄 ;

曾纪光 ;

张涛 ;

夏勇俊 ;

陈龙 .

中国专利 :CN111879789A ,2020-11-03

[10] 金属表面损伤检测方法、系统、存储介质及电子设备 [P].

辛蒙号 ;

郭强 ;

王博 ;

林浩生 .

中国专利 :CN114463283A ,2022-05-10

← 1 2 3 4 5 →