光学特性测量装置及光学特性测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480045838.0

申请日：

2014-08-13

公开(公告)号：

CN105473999B

公开(公告)日：

2016-04-06

发明(设计)人：

小野修司

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

樊建中

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-06	公开	公开
2016-05-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101658414629 IPC(主分类):G01N 21/47 专利申请号:2014800458380 申请日:20140813
2018-01-19	授权	授权

共 50 条

[1] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[2] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[3] 光学特性测量装置 [P].

关口瑛士 ;

清水晋二 ;

高桥诚 .

中国专利 :CN108369155A ,2018-08-03

[4] 光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P].

前田穣 .

中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16

[5] 光学特性测量方法、装置及设备 [P].

欧兴涛 ;

杨城 ;

汤深富 ;

白绳武 .

中国专利 :CN118706404A ,2024-09-27

[6] 光学特性建模方法及装置、光学参数测量方法 [P].

张晓雷 ;

张厚道 ;

梁洪涛 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114963996B ,2025-02-14

[7] 光学特性测量装置及方法 [P].

江口明大 ;

下田知之 .

中国专利 :CN103210294A ,2013-07-17

[8] 光学特性测量装置 [P].

大久保和明 ;

白岩久志 .

中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12

[9] 光学特性测量装置 [P].

安藤利典 .

中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17

[10] 光学测量方法及光学测量装置 [P].

松村淳一 ;

大久保宪治 .

中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18

← 1 2 3 4 5 →