使用平面几何结构的光栅设备进行X射线相衬成像和暗场成像的方法

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专利类型
发明
申请号
CN201180032532.8
申请日
2011-04-04
公开(公告)号
CN102971620A
公开(公告)日
2013-03-13
发明(设计)人
克里斯蒂安·大卫 马可·斯坦帕诺尼
申请人
申请人地址
瑞士菲利根
IPC主分类号
G01N2304
IPC分类号
G21K102 A61B600
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
朱胜;陈炜
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[41]   用于立体地进行X 射线成像的方法和系统单元 [P]. 
P.伯恩哈特 ;
M.斯潘 .
中国专利 :CN102949203A ,2013-03-06
[42]   用于X射线相衬系统的探测器装置和用于X射线对比成像的方法 [P]. 
R·普罗克绍 .
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[43]   用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统 [P]. 
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[44]   管理X射线成像系统中的几何失准 [P]. 
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刘学进 ;
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[45]   X射线成像系统和记录X射线图像的方法 [P]. 
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[46]   X射线CT设备和成像方法 [P]. 
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[47]   准同步多平面X射线成像的系统和方法 [P]. 
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章林文 ;
刘进 ;
夏连胜 ;
张篁 ;
阳庆国 ;
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米卡·波拉里 ;
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[50]   X射线成像设备和控制所述设备的方法 [P]. 
金圣洙 ;
吴炫和 ;
姜东求 ;
姜声训 ;
成映勋 ;
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