屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110604865.9

申请日：

2021-05-31

公开(公告)号：

CN113269762A

公开(公告)日：

2021-08-17

发明(设计)人：

丁晓帅

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T780 G06T711

代理机构：

苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235

代理人：

沈晓敏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-17	公开	公开
2021-09-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210531

共 50 条

[21] 入侵检测方法、装置及系统、计算机存储介质 [P].

杜学丹 .

中国专利 :CN113989321A ,2022-01-28

[22] 对象检测方法、相关设备及计算机存储介质 [P].

方民权 ;

李跃亮 ;

李怀洲 .

中国专利 :CN109614889A ,2019-04-12

[23] 目标检测方法、电子介质和计算机存储介质 [P].

郑炜栋 .

中国专利 :CN112562093A ,2021-03-26

[24] 屏幕展开到位检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

陈毅东 ;

赵飞颖 ;

余森 .

中国专利 :CN120651086A ,2025-09-16

[25] 屏幕的检测方法及装置、计算机可读存储介质 [P].

刘小磊 ;

王云奇 ;

董泽华 ;

楚明磊 ;

陈丽莉 ;

张浩 .

中国专利 :CN110111711A ,2019-08-09

[26] 检测方法、检测系统及计算机可读存储介质 [P].

刘家奇 ;

朱晓峰 .

中国专利 :CN119090974A ,2024-12-06

[27] 话单差异检测方法、系统、计算机存储介质及计算机设备 [P].

冯宇 .

中国专利 :CN108521527A ,2018-09-11

[28] 开口圆环工件外观缺陷检测方法、系统及计算机存储介质 [P].

任将 ;

熊星 .

中国专利 :CN113139943B ,2021-07-20

[29] 检测方法、系统及计算机可读存储介质 [P].

王林祥 ;

李楠 ;

刘林会 .

中国专利 :CN108197526A ,2018-06-22

[30] 屏幕漏光的检测方法、系统、终端及计算机可读存储介质 [P].

程佳斌 .

中国专利 :CN107843991A ,2018-03-27

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