开口圆环工件外观缺陷检测方法、系统及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110437890.2

申请日：

2021-04-22

公开(公告)号：

CN113139943B

公开(公告)日：

2021-07-20

发明(设计)人：

任将熊星

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T713 G06T762

代理机构：

苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235

代理人：

沈晓敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210422
2022-08-12	授权	授权
2021-07-20	公开	公开

共 50 条

[1] 工件缺陷检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质 [P].

郑杰鑫 ;

胡郡郡 ;

唐大闰 .

中国专利 :CN113916979A ,2022-01-11

[2] 缺陷检测方法、装置及计算机存储介质 [P].

谢文蛟 ;

莫小龙 .

中国专利 :CN120685677A ,2025-09-23

[3] 缺陷检测方法、装置及计算机存储介质 [P].

申云鹏 .

中国专利 :CN114663365A ,2022-06-24

[4] 缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111507974A ,2020-08-07

[5] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

艾立夫 ;

赵东峰 ;

董立超 ;

刘宝山 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

彭旭 .

中国专利 :CN111812105A ,2020-10-23

[6] 工件缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

张才明 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119273658A ,2025-01-07

[7] 晶圆缺陷检测系统及检测方法和计算机存储介质 [P].

胡向华 ;

何广智 ;

顾晓芳 ;

倪棋梁 ;

龙吟 ;

陈宏璘 .

中国专利 :CN109065467A ,2018-12-21

[8] 产品外观缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

周昆 ;

吴海浪 ;

蒋念娟 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119722608A ,2025-03-28

[9] 缺陷检测方法、计算机装置及存储介质 [P].

林子甄 ;

蔡东佐 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN115456929A ,2022-12-09

[10] 缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P].

肖光曦 .

中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11

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