光谱测量装置和方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111114423.2
申请日
2021-09-23
公开(公告)号
CN113834568A
公开(公告)日
2021-12-24
发明(设计)人
郝成龙 谭凤泽 朱健
申请人
申请人地址
518101 广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
代理机构
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285
代理人
陈彦如
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[41]   一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P]. 
赵清宇 ;
黄曙东 .
中国专利 :CN118565621A ,2024-08-30
[42]   显微光谱测量方法和系统 [P]. 
亚历山大·科科塔 ;
瓦西里·夏伊恩卡 ;
塞德里克·马切苏 .
中国专利 :CN110214290A ,2019-09-06
[43]   光缆跳线头内部光纤断点的光谱测量装置和方法 [P]. 
高泽仁 ;
周丰 ;
张铭 ;
刘苏南 .
中国专利 :CN108613794A ,2018-10-02
[44]   一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P]. 
赵清宇 .
中国专利 :CN118392304B ,2024-09-10
[45]   扩展光谱仪光谱测量范围方法及系统 [P]. 
黄梅珍 ;
汪洋 ;
孙小小 ;
管相宇 ;
刘天元 .
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[46]   一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P]. 
赵清宇 .
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[47]   光谱测量系统及测量方法 [P]. 
戴琼海 ;
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邵航 ;
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[48]   射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P]. 
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[49]   超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P]. 
郝成龙 ;
谭凤泽 ;
朱瑞 ;
朱健 .
中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27
[50]   光谱测量治具 [P]. 
何伟峰 ;
李泰华 .
中国专利 :CN213658227U ,2021-07-09