光谱测量装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111114423.2

申请日：

2021-09-23

公开(公告)号：

CN113834568A

公开(公告)日：

2021-12-24

发明(设计)人：

郝成龙谭凤泽朱健

申请人：

申请人地址：

518101 广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

代理机构：

深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285

代理人：

陈彦如

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	公开	公开
2022-01-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20210923

共 50 条

[21] 光谱测量方法和设备 [P].

金颖康 ;

吴万龙 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 ;

任道光 ;

范锐 .

中国专利 :CN120369117A ,2025-07-25

[22] 一种基于声光调制的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

何浩培 ;

刘辉 .

中国专利 :CN103728019A ,2014-04-16

[23] 一种基于电光效应的光谱测量装置及其光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

李兴鳌 ;

何浩培 ;

刘辉 .

中国专利 :CN103728021B ,2014-04-16

[24] 日光光谱测量方法和装置 [P].

高源 ;

董建飞 ;

张国旗 .

中国专利 :CN104748853A ,2015-07-01

[25] 光谱测量设备 [P].

吴万龙 ;

金颖康 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 .

中国专利 :CN120369116A ,2025-07-25

[26] 光谱测量系统 [P].

徐宁汉 ;

肖晓飞 ;

白本锋 ;

谭峭峰 ;

金国藩 .

中国专利 :CN103499391B ,2014-01-08

[27] 光谱测量系统 [P].

J·蒋 ;

M·斯科特 ;

E·若弗里翁 ;

A·凯布尔 .

中国专利 :CN107003232B ,2017-08-01

[28] 光谱测量系统 [P].

张文君 ;

翟保才 ;

董洪波 ;

许键 .

中国专利 :CN103424188A ,2013-12-04

[29] 光谱测量设备 [P].

曼弗雷德·亚杰拉 ;

米夏埃尔·玮斯 .

中国专利 :CN107664616B ,2018-02-06

[30] 确定污染物浓度的光谱测量装置和方法 [P].

D·波勒 ;

M·霍本斯基 ;

U·普拉特 .

中国专利 :CN108351291B ,2018-07-31

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