一种基于深度学习方法的芯片缺陷检测方法

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申请号
CN202111647594.1
申请日
2021-12-29
公开(公告)号
CN114463269A
公开(公告)日
2022-05-10
发明(设计)人
张国和 丁莎 陈琳
申请人
申请人地址
210013 江苏省南京市鼓楼区古平岗4号
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06K962 G06N304 G06N308 G06V10764
代理机构
南京众联专利代理有限公司 32206
代理人
毕东峰
法律状态
公开
国省代码
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