一种基于深度学习方法的芯片缺陷检测方法

被引：0

申请号：

CN202111647594.1

申请日：

2021-12-29

公开(公告)号：

CN114463269A

公开(公告)日：

2022-05-10

发明(设计)人：

张国和丁莎陈琳

申请人：

申请人地址：

210013 江苏省南京市鼓楼区古平岗4号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06K962 G06N304 G06N308 G06V10764

代理机构：

南京众联专利代理有限公司 32206

代理人：

毕东峰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-10	公开	公开
2022-05-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20211229

共 50 条

[1] 一种基于YOLO的深度学习芯片封装裂纹缺陷检测方法 [P].

曾龙 ;

王宏羽 ;

杨凡 ;

王硕 ;

林宜龙 ;

刘飞 .

中国专利 :CN112967243B ,2021-06-15

[2] 基于深度学习的铺粉缺陷检测方法 [P].

白培康 ;

李忠华 ;

刘立鑫 ;

刘斌 ;

赵占勇 .

中国专利 :CN114708427A ,2022-07-05

[3] 一种基于深度学习的芯片焊点超界检测方法 [P].

汪俊 ;

涂启帆 ;

李大伟 .

中国专利 :CN113554603A ,2021-10-26

[4] 一种基于深度学习的缺陷检测方法 [P].

尹仕斌 ;

郭寅 ;

郭磊 ;

孙文毅 ;

赵进 .

中国专利 :CN117808776A ,2024-04-02

[5] 一种基于深度学习的轴承端盖表面缺陷检测方法 [P].

庄佳衍 ;

冯含枫 ;

叶思超 ;

陈希玉 ;

刘泽 ;

宋康康 ;

肖江剑 .

中国专利 :CN118096686A ,2024-05-28

[6] 一种基于深度学习的半导体缺陷检测方法及系统 [P].

宋海波 ;

魏维格 .

中国专利 :CN119379621A ,2025-01-28

[7] 基于深度学习的金属纽扣表面缺陷实时检测方法 [P].

金荣正 ;

丘小意 ;

谭来英 ;

粱锦城 .

中国专利 :CN119444718A ,2025-02-14

[8] 一种基于深度学习的电接口缺陷检测方法 [P].

赵玉良 ;

李建 ;

张清雨 ;

余成忠 .

中国专利 :CN114066849B ,2024-08-20

[9] 一种基于深度学习的电接口缺陷检测方法 [P].

赵玉良 ;

李建 ;

张清雨 ;

余成忠 .

中国专利 :CN114066849A ,2022-02-18

[10] 一种基于深度学习的封装芯片缺陷检测方法 [P].

张小虎 ;

杨明坤 ;

王杰 ;

林彬 ;

钟立军 .

中国专利 :CN113362306B ,2021-09-07

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