一种光谱测量方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010364227.X

申请日：

2020-04-30

公开(公告)号：

CN111458024A

公开(公告)日：

2020-07-28

发明(设计)人：

董翊

申请人：

申请人地址：

210008 江苏省南京市江北新区星火路9号软件大厦B座3楼

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

G01J302

代理机构：

深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368

代理人：

齐文剑

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-28	公开	公开
2020-08-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20200430

共 50 条

[21] 一种光谱测量装置和方法 [P].

王平 ;

李思成 ;

李昊政 ;

余博宇 ;

毕亚丽 ;

周启沛 ;

黄智梁 ;

杨驰 ;

闫帅 .

中国专利 :CN113203727A ,2021-08-03

[22] 一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P].

赵清宇 ;

黄曙东 .

中国专利 :CN118565621A ,2024-08-30

[23] 基于弹光效应的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

许超 ;

杨涛 ;

蔡祥宝 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

何浩培 ;

黄维 .

中国专利 :CN103759831A ,2014-04-30

[24] 一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P].

赵清宇 .

中国专利 :CN118392304B ,2024-09-10

[25] 基于磁光调制的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

仪明东 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

何浩培 ;

王义成 .

中国专利 :CN103759829B ,2014-04-30

[26] 一种光谱测量装置及其方法和光谱仪 [P].

赵清宇 .

中国专利 :CN118392304A ,2024-07-26

[27] 一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置 [P].

张洪明 ;

胡乃银 ;

黄超 ;

诸允良 .

中国专利 :CN114609073B ,2022-06-10

[28] 日光光谱测量方法和装置 [P].

高源 ;

董建飞 ;

张国旗 .

中国专利 :CN104748853A ,2015-07-01

[29] 一种角分辨光谱测量方法及系统 [P].

熊敏 .

中国专利 :CN118329205B ,2024-11-26

[30] 光谱仪及其光谱测量方法 [P].

黄勇谕 ;

李锡滨 ;

谢和易 ;

陈正雄 ;

林明慧 .

中国专利 :CN108344688A ,2018-07-31

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