一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置

被引：0

申请号：

CN202210500485.5

申请日：

2022-05-10

公开(公告)号：

CN114609073B

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

张洪明胡乃银黄超诸允良

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新区习友路2666号中科院合肥技术创新工程院2号楼307室

IPC主分类号：

G01N2131

IPC分类号：

G01J342 G01J302

代理机构：

合肥金律专利代理事务所(普通合伙) 34184

代理人：

程笃庆

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-10	公开	公开
2022-07-29	授权	授权
2022-06-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20220510

共 50 条

[1] 光谱测量系统及测量方法 [P].

戴琼海 ;

高彬 ;

张晶 ;

邵航 ;

范静涛 .

中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13

[2] 光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[3] 光谱仪的光谱测量方法 [P].

邓文平 .

中国专利 :CN105043996A ,2015-11-11

[4] 脉冲闪光灯辐射光谱测量装置和测量方法 [P].

刘建军 ;

李海兵 ;

林文正 ;

吴睿骅 ;

邵若燕 ;

梁海荣 .

中国专利 :CN102564592A ,2012-07-11

[5] 光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[6] 一种光谱测量装置、制备方法和测量系统及其测量方法 [P].

尹金德 ;

段辉雄 ;

闫培光 ;

张敏 ;

陈浩 ;

郭凯 .

中国专利 :CN111307747A ,2020-06-19

[7] 光谱测量装置及其测量方法 [P].

王振伟 .

中国专利 :CN115615544A ,2023-01-17

[8] 光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 [P].

刘世杰 ;

王圣浩 ;

王微微 ;

倪开灶 ;

徐天柱 ;

鲁棋 ;

潘本威 .

中国专利 :CN106596058B ,2017-04-26

[9] 光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[10] 一种光谱测量方法和装置 [P].

董翊 .

中国专利 :CN111458024A ,2020-07-28

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