光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610162747.6

申请日：

2016-03-21

公开(公告)号：

CN106017687B

公开(公告)日：

2016-10-12

发明(设计)人：

五味二夫

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01J350

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

田喜庆;吴孟秋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-01	授权	授权
2017-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101713358112 IPC(主分类):G01J 3/50 专利申请号:2016101627476 申请日:20160321
2016-10-12	公开	公开

共 50 条

[1] 光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[2] 光谱测量方法、装置 [P].

薛敏 ;

朱贝贝 ;

潘时龙 ;

曹源 .

中国专利 :CN107121193A ,2017-09-01

[3] 透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

郑仲翔 ;

陈敬修 ;

胡恩德 .

中国专利 :CN104792697A ,2015-07-22

[4] 光谱测量装置及其测量方法 [P].

王振伟 .

中国专利 :CN115615544A ,2023-01-17

[5] 光谱测量装置 [P].

王唯科 .

中国专利 :CN106404684B ,2017-02-15

[6] 光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[7] 基于弹光效应的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

许超 ;

杨涛 ;

蔡祥宝 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

何浩培 ;

黄维 .

中国专利 :CN103759831A ,2014-04-30

[8] 光谱测量装置 [P].

比约恩·哈斯 ;

约阿希姆·博勒 .

中国专利 :CN109799194B ,2019-05-24

[9] 光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[10] 基于磁光调制的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

仪明东 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

何浩培 ;

王义成 .

中国专利 :CN103759829B ,2014-04-30

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