光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610162747.6

申请日：

2016-03-21

公开(公告)号：

CN106017687B

公开(公告)日：

2016-10-12

发明(设计)人：

五味二夫

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01J350

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

田喜庆;吴孟秋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-01	授权	授权
2017-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101713358112 IPC(主分类):G01J 3/50 专利申请号:2016101627476 申请日:20160321
2016-10-12	公开	公开

共 50 条

[21] 光谱测量方法和设备 [P].

金颖康 ;

吴万龙 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 ;

任道光 ;

范锐 .

中国专利 :CN120369117A ,2025-07-25

[22] 一种光谱测量方法 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN102087142B ,2011-06-08

[23] 一种基于声光调制的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

何浩培 ;

刘辉 .

中国专利 :CN103728019A ,2014-04-16

[24] 光谱测量设备 [P].

曼弗雷德·亚杰拉 ;

米夏埃尔·玮斯 .

中国专利 :CN107664616B ,2018-02-06

[25] 一种基于电光效应的光谱测量装置及其光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

李兴鳌 ;

何浩培 ;

刘辉 .

中国专利 :CN103728021B ,2014-04-16

[26] 光谱测量装置和方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱健 .

中国专利 :CN113834568A ,2021-12-24

[27] 角分辨光谱测量装置 [P].

许春 ;

殷海玮 ;

章炜毅 .

中国专利 :CN203132698U ,2013-08-14

[28] 太赫兹光谱测量装置、测量方法及其用途 [P].

林琦 ;

林中晞 ;

朱振国 ;

钟杏丽 ;

苏辉 .

中国专利 :CN112229814B ,2021-01-15

[29] 一种光谱测量装置及测量方法 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

黄维 ;

何浩培 ;

李兴鳌 ;

李咏华 ;

王广婷 .

中国专利 :CN103913226A ,2014-07-09

[30] 射频标记光谱仪及光谱测量方法 [P].

刘泉 .

中国专利 :CN116202621B ,2025-06-27

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