光学特性测量模拟装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810074526.2

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN108562423A

公开(公告)日：

2018-09-21

发明(设计)人：

范小礼刘畅王静

申请人：

申请人地址：

100854 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

代理机构：

北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466

代理人：

黄启行;张璐

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-21	公开	公开
2020-11-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/00 申请公布日:20180921
2018-10-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20180125

共 50 条

[41] 光学特性显示装置以及光学特性显示方法 [P].

猪川史哉 ;

石原睦隆 ;

原田明宏 .

中国专利 :CN118742251A ,2024-10-01

[42] 光学特性测定装置和光学特性测定方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN109642868B ,2019-04-16

[43] 用于空间目标远近场光学特性测量的装置 [P].

孟刚 ;

南华 ;

薛莲 ;

周岩 ;

李亚男 ;

白文浩 ;

范小礼 ;

邓蓉 ;

水涌涛 ;

刘佳琪 ;

刘成国 ;

陈福泰 .

中国专利 :CN109459215B ,2019-03-12

[44] 用于测量物体的光学特性的设备 [P].

伯恩德特·沃姆 ;

斯蒂芬·施密特 ;

克劳迪娅·格舍博特 ;

克里斯托夫·德尼茨基 .

中国专利 :CN103415243A ,2013-11-27

[45] 多个光学特性的单次扫描测量 [P].

D·R·安德森 .

中国专利 :CN1774621A ,2006-05-17

[46] 光学特性自动测量系统(DM-205) [P].

梁田喜 .

中国专利 :CN305075286S ,2019-03-22

[47] 各向异性半导体光学特性测量装置及其测量方法 [P].

张璐 ;

展永政 ;

林宁亚 ;

张青 .

中国专利 :CN117740742A ,2024-03-22

[48] 电气特性测量装置 [P].

池田大辅 .

日本专利 :CN112327106B ,2024-04-26

[49] 质量特性测量装置 [P].

郭永才 ;

武艺泳 ;

孙熠博 ;

马千里 ;

高超峰 .

中国专利 :CN117330241A ,2024-01-02

[50] 电气特性测量装置 [P].

池田大辅 .

中国专利 :CN112327106A ,2021-02-05

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