用于测量物体的光学特性的设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180067695.X

申请日：

2011-02-15

公开(公告)号：

CN103415243A

公开(公告)日：

2013-11-27

发明(设计)人：

伯恩德特·沃姆斯蒂芬·施密特克劳迪娅·格舍博特克里斯托夫·德尼茨基

申请人：

申请人地址：

德国埃朗根

IPC主分类号：

A61B312

IPC分类号：

A61B310 A61B3103 A61B318

代理机构：

北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270

代理人：

武晨燕;徐川

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-11-27	公开	公开
2014-02-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101573122546 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 申请日:20110215
2015-02-11	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101710668786 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 变更事项:申请人变更前:威孚莱有限公司变更后:视乐有限公司变更事项:地址变更前:德国埃朗根变更后:德国埃朗根
2016-08-24	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101737841055 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 申请公布日:20131127

共 50 条

[1] 用于测量物体的光学特性的方法和系统 [P].

瓦格纳·塔瓦雷斯·布欧诺 ;

凯尚·辛格 ;

安德鲁·福布斯 ;

安吉拉·达德利 .

:CN118215834A ,2024-06-18

[2] 用于测量施加于物体的光学可变标志的光学特性的方法和设备 [P].

E·德库 ;

X·施瓦布 .

中国专利 :CN102971744B ,2013-03-13

[3] 用于测量物体的测量设备 [P].

M·弗格尔 ;

R·里奇特 ;

T·梅茨 ;

A·格利姆 ;

T·克卢达斯 ;

U·纳图拉 .

中国专利 :CN111060066B ,2020-04-24

[4] 光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P].

前田穣 .

中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16

[5] 用于测量物体的设备 [P].

彼得·肯尼思·赫利尔 .

中国专利 :CN102607492A ,2012-07-25

[6] 一种用于测量材料光学特性的光学装置 [P].

拉斐尔·拉拜拉德 ;

安娜·安德烈妮 .

中国专利 :CN113167728A ,2021-07-23

[7] 测量物体尺寸的设备 [P].

赵刚 ;

邱鹏 .

中国专利 :CN204881572U ,2015-12-16

[8] 测量物体尺寸的设备 [P].

K·卡拉克恩斯 ;

E·克韦德莱恩 .

中国专利 :CN102498363A ,2012-06-13

[9] 光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P].

小野修司 .

中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06

[10] 用于测量物体颜色的方法和设备 [P].

弗兰克·埃内贝勒 .

中国专利 :CN104272071A ,2015-01-07

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