用于测量物体的光学特性的设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180067695.X

申请日：

2011-02-15

公开(公告)号：

CN103415243A

公开(公告)日：

2013-11-27

发明(设计)人：

伯恩德特·沃姆斯蒂芬·施密特克劳迪娅·格舍博特克里斯托夫·德尼茨基

申请人：

申请人地址：

德国埃朗根

IPC主分类号：

A61B312

IPC分类号：

A61B310 A61B3103 A61B318

代理机构：

北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270

代理人：

武晨燕;徐川

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-11-27	公开	公开
2014-02-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101573122546 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 申请日:20110215
2015-02-11	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101710668786 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 变更事项:申请人变更前:威孚莱有限公司变更后:视乐有限公司变更事项:地址变更前:德国埃朗根变更后:德国埃朗根
2016-08-24	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101737841055 IPC(主分类):A61B 3/12 专利申请号:201180067695X 申请公布日:20131127

共 50 条

[31] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[32] 一种针对微区的光学特性测量系统及测量方法 [P].

张蜡宝 ;

吴洋 ;

贾小氢 ;

康琳 ;

陈健 ;

吴培亨 .

中国专利 :CN110595737A ,2019-12-20

[33] 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘 [P].

星山浩树 .

中国专利 :CN1150242A ,1997-05-21

[34] 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘 [P].

星山浩树 .

中国专利 :CN1057831C ,1996-06-05

[35] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[36] 对测量物体的厚度进行测量的方法以及用于应用该方法的设备 [P].

H·菲尔迈耶 ;

G·舒奥莫瑟 .

中国专利 :CN105705905A ,2016-06-22

[37] 用于物理参数的光学测量的设备 [P].

奥利维尔·伯纳尔 ;

弗朗西斯·博尼 ;

蒂埃里·博施 ;

奥斯曼·扎比特 .

中国专利 :CN102906534A ,2013-01-30

[38] 用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备 [P].

于尔根·兰普雷希特 ;

约翰尼斯·普丰德 .

德国专利 :CN114424040B ,2024-09-06

[39] 用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备 [P].

于尔根·兰普雷希特 ;

约翰尼斯·普丰德 .

中国专利 :CN114424040A ,2022-04-29

[40] 用于测量物体的物理量的带 [P].

马克·珀蒂 ;

西尔万·布莱龙 .

中国专利 :CN108292534A ,2018-07-17

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