超导量子芯片连通链室温电阻测量方法、装置、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510700886.9

申请日：

2025-05-28

公开(公告)号：

CN120539489A

公开(公告)日：

2025-08-26

发明(设计)人：

任颂家应翀宿非凡邓辉严凯张海斌荣皓刘玉琪

申请人：

济南量子技术研究院合肥国家实验室

申请人地址：

250101 山东省济南市高新区舜华路747号

IPC主分类号：

G01R27/08

IPC分类号：

G01N27/92 G01R1/073

代理机构：

河南舜壹知识产权代理事务所(普通合伙) 41213

代理人：

黄晶

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-26	公开	公开
2025-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 27/08申请日:20250528

共 50 条

[21] 电阻测量方法、装置、设备及存储介质 [P].

全昭焕 .

中国专利 :CN114236243A ,2022-03-25

[22] 一种超导量子芯片的态泄露压制方法、装置、芯片及介质 [P].

王辉 ;

李勇 ;

于晓艳 ;

刘强 .

中国专利 :CN117808112B ,2024-05-14

[23] 一种超导量子芯片的态泄露压制方法、装置、芯片及介质 [P].

王辉 ;

李勇 ;

于晓艳 ;

刘强 .

中国专利 :CN117808112A ,2024-04-02

[24] 超导量子芯片及倒装焊芯片间距控制方法 [P].

李成垚 ;

杨楚宏 ;

苏唐 .

中国专利 :CN114005930A ,2022-02-01

[25] 一种超导量子芯片参数校准方法、系统、装置及介质 [P].

薛长青 ;

于洪真 ;

刘幼航 ;

刘强 .

中国专利 :CN115660095A ,2023-01-31

[26] 一种超导量子芯片参数校准方法、系统、装置及介质 [P].

薛长青 ;

于洪真 ;

刘幼航 ;

刘强 .

中国专利 :CN115660095B ,2024-08-06

[27] 一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质 [P].

李泽东 ;

周慧德 ;

栾添 .

中国专利 :CN115963384B ,2025-03-11

[28] 一种DMD无掩膜光刻超导量子芯片方法、装置、系统及介质 [P].

梁莹 ;

冯冠儒 ;

项金根 ;

孟铁军 .

中国专利 :CN115407615A ,2022-11-29

[29] 一种DMD无掩膜光刻超导量子芯片方法、装置、系统及介质 [P].

梁莹 ;

冯冠儒 ;

项金根 ;

孟铁军 .

中国专利 :CN115407615B ,2025-03-21

[30] 电阻测量装置及电阻测量方法 [P].

山下宗寛 .

中国专利 :CN109997046B ,2019-07-09

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