自动分析装置及其分析方法

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专利类型
发明
申请号
CN202480010249.2
申请日
2024-05-10
公开(公告)号
CN120569632A
公开(公告)日
2025-08-29
发明(设计)人
佐藤由莉 野田和弘
申请人
株式会社日立高新技术
申请人地址
日本
IPC主分类号
G01N35/00
IPC分类号
G01N35/10
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
许静;范胜杰
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]   自动分析装置及其分析方法 [P]. 
松冈裕哉 ;
足立作一郎 ;
牧野彰久 .
中国专利 :CN109690320B ,2019-04-26
[2]   自动分析装置、自动分析方法 [P]. 
藤田明直 ;
森高通 ;
野岛彰纮 .
日本专利 :CN120539432A ,2025-08-26
[3]   自动分析装置及其样本分析方法 [P]. 
张震 ;
周鹏 ;
王俊 ;
解传芬 ;
王海 .
中国专利 :CN103443629A ,2013-12-11
[4]   自动分析装置及其样本分析方法 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN107942085A ,2018-04-20
[5]   自动分析装置及其分析方法 [P]. 
佐藤摘步实 ;
高桥健一 .
日本专利 :CN119846238A ,2025-04-18
[6]   自动分析装置以及自动分析装置的分析方法 [P]. 
山崎功夫 ;
西田正治 .
中国专利 :CN1624484A ,2005-06-08
[7]   自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法 [P]. 
稻边利幸 ;
牧野彰久 ;
足立作一郎 ;
薮谷千枝 .
中国专利 :CN107923853A ,2018-04-17
[8]   自动分析装置以及自动分析装置的分析方法 [P]. 
井口晃弘 ;
茂手木尚哉 .
中国专利 :CN101344530A ,2009-01-14
[9]   自动分析装置以及自动分析方法 [P]. 
薮谷千枝 ;
铃木直人 ;
牧野彰久 .
中国专利 :CN115112911A ,2022-09-27
[10]   自动分析装置及自动分析方法 [P]. 
伊藤匠 ;
东信二 ;
深谷昌史 .
中国专利 :CN110036296A ,2019-07-19