自动分析装置及其分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411363033.2

申请日：

2024-09-27

公开(公告)号：

CN119846238A

公开(公告)日：

2025-04-18

发明(设计)人：

佐藤摘步实高桥健一

申请人：

株式会社日立高新技术

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01N35/00

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;范胜杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 35/00申请日:20240927
2025-04-18	公开	公开

共 50 条

[1] 自动分析装置及其分析方法 [P].

松冈裕哉 ;

足立作一郎 ;

牧野彰久 .

中国专利 :CN109690320B ,2019-04-26

[2] 自动分析装置及其分析方法 [P].

佐藤由莉 ;

野田和弘 .

日本专利 :CN120569632A ,2025-08-29

[3] 自动分析装置及其分析方法和分析系统 [P].

张震 ;

周鹏 ;

王俊 ;

解传芬 .

中国专利 :CN104111341B ,2014-10-22

[4] 自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法 [P].

深谷昌史 ;

安居晃启 .

中国专利 :CN113287022A ,2021-08-20

[5] 自动分析装置、自动分析方法 [P].

垂水信二 ;

薮谷千枝 ;

牧野彰久 ;

万里千裕 ;

光山训 .

中国专利 :CN104797940A ,2015-07-22

[6] 自动分析装置、自动分析方法 [P].

杉山清隆 ;

藤田浩子 .

中国专利 :CN115461466A ,2022-12-09

[7] 自动分析装置、自动分析方法 [P].

竹内美和 ;

牛久惠美子 ;

高桥健一 .

中国专利 :CN111788479A ,2020-10-16

[8] 自动分析装置、自动分析方法 [P].

藤田明直 ;

森高通 ;

野岛彰纮 .

日本专利 :CN120539432A ,2025-08-26

[9] 自动分析装置及其样本分析方法 [P].

张震 ;

周鹏 ;

王俊 ;

解传芬 ;

王海 .

中国专利 :CN103443629A ,2013-12-11

[10] 自动分析装置及其样本分析方法 [P].

张震 .

中国专利 :CN107942085A ,2018-04-20

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