光谱仪装置和用于对样本进行分类的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380079049.8
申请日
2023-11-14
公开(公告)号
CN120322666A
公开(公告)日
2025-07-15
发明(设计)人
S·库尔卡尼 C·普罗科普 C·M·奥古恩
申请人
特里纳米克斯股份有限公司
申请人地址
德国
IPC主分类号
G01N21/31
IPC分类号
G01N21/17 G01N21/55
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
王英杰;于静
法律状态
公开
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共 50 条
[1]   用于校准光谱仪装置的方法 [P]. 
R·洛夫林契奇 .
德国专利 :CN118119831A ,2024-05-31
[2]   光谱仪以及用于光谱仪的方法 [P]. 
S·J·泰勒 ;
J·R·阿特金森 .
中国专利 :CN108279264A ,2018-07-13
[3]   用于校准光谱仪装置的方法 [P]. 
S·S·温克勒 ;
H·齐默尔曼 ;
A·霍萨克 ;
R·洛夫林契奇 ;
F·施密特 ;
P·辛德勒 .
德国专利 :CN117980709A ,2024-05-03
[4]   光谱仪、用于制造光谱仪的方法和用于运行光谱仪的方法 [P]. 
B·斯坦 ;
M·胡思尼克 ;
E·鲍姆加特 ;
F·毛赫 ;
C·谢林 ;
R·维斯 .
中国专利 :CN111684243A ,2020-09-18
[5]   用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪 [P]. 
B.施泰因 ;
C.舍林 ;
M.赫默斯多夫 ;
M.胡斯尼克 ;
R.诺尔特迈尔 ;
F.米歇尔 .
中国专利 :CN110207820A ,2019-09-06
[6]   用于对试样进行光谱分析的光谱仪 [P]. 
米夏埃尔·巴尔特 ;
拉尔夫-皮特·京特 ;
卡斯滕·林迪希 ;
京特·鲁道夫 ;
塞巴斯蒂安·坦纳特 ;
斯特芬·瓦格纳 .
德国专利 :CN120344837A ,2025-07-18
[7]   用于校准成批光谱仪装置中的光谱仪装置的方法 [P]. 
M·汉克 ;
R·洛夫林契奇 ;
A·霍萨克 ;
T·劳施 .
德国专利 :CN120225843A ,2025-06-27
[8]   光谱仪装置 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
R·森德 .
中国专利 :CN114127520A ,2022-03-01
[9]   光谱仪设备和用于制造光谱仪设备的方法 [P]. 
R·诺特迈耶 ;
M·胡思尼克 ;
E·鲍姆加特 ;
M·施米德 ;
R·勒德尔 ;
B·斯坦 ;
C·谢林 ;
C·D·克莱默 .
中国专利 :CN113196021A ,2021-07-30
[10]   光谱仪系统和用于测试光谱仪系统的方法 [P]. 
费利克斯·克斯坦 ;
于尔根·格贝尔 .
中国专利 :CN113366288A ,2021-09-07