光谱仪、用于制造光谱仪的方法和用于运行光谱仪的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980011251.0

申请日：

2019-01-16

公开(公告)号：

CN111684243A

公开(公告)日：

2020-09-18

发明(设计)人：

B·斯坦 M·胡思尼克 E·鲍姆加特 F·毛赫 C·谢林 R·维斯

申请人：

申请人地址：

德国斯图加特

IPC主分类号：

G01J302

IPC分类号：

G01J318 G01J326 G01J328 H01L27146 G01J312

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

孙云汉;刘春元

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/02 申请日:20190116
2020-09-18	公开	公开

共 50 条

[1] 用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪 [P].

B.施泰因 ;

C.舍林 ;

M.赫默斯多夫 ;

M.胡斯尼克 ;

R.诺尔特迈尔 ;

F.米歇尔 .

中国专利 :CN110207820A ,2019-09-06

[2] 光谱仪以及用于光谱仪的方法 [P].

S·J·泰勒 ;

J·R·阿特金森 .

中国专利 :CN108279264A ,2018-07-13

[3] 光谱仪设备和用于制造光谱仪设备的方法 [P].

R·诺特迈耶 ;

M·胡思尼克 ;

E·鲍姆加特 ;

M·施米德 ;

R·勒德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 .

中国专利 :CN113196021A ,2021-07-30

[4] 光谱仪装置以及用于制造光谱仪装置的方法 [P].

M·胡斯尼克 ;

C·胡贝尔 ;

R·罗德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 .

中国专利 :CN112534222A ,2021-03-19

[5] 光谱仪和用于校准光谱仪的方法 [P].

M·胡斯尼克 ;

M·丁泽尔 ;

M·施密特 ;

D·乌利希 .

中国专利 :CN112534224A ,2021-03-19

[6] 光谱仪系统和用于测试光谱仪系统的方法 [P].

费利克斯·克斯坦 ;

于尔根·格贝尔 .

中国专利 :CN113366288A ,2021-09-07

[7] 光谱仪系统和用于测试光谱仪系统的方法 [P].

费利克斯·克斯坦 ;

于尔根·格贝尔 .

德国专利 :CN113366288B ,2024-11-12

[8] 光谱仪和光谱仪的测试方法 [P].

李朝阳 ;

李长松 ;

马立敏 ;

张志杰 .

中国专利 :CN119826973A ,2025-04-15

[9] 用于运行显微光谱仪的方法和显微光谱仪 [P].

M.胡斯尼克 ;

C.胡贝尔 ;

M.施密德 ;

H.科佩斯 ;

B.施泰因 ;

C.舍林 .

中国专利 :CN109891204A ,2019-06-14

[10] 光谱仪的电控组件和光谱仪 [P].

谭易东 ;

潘奕 .

中国专利 :CN112858189A ,2021-05-28

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