光伏硅片缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411742870.6

申请日：

2024-11-29

公开(公告)号：

CN119941618A

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

杨天金刚刚任良为金晨淦李永伟王春来吴东阳

申请人：

横店集团东磁股份有限公司

申请人地址：

322118 浙江省金华市东阳市湖头陆工业区东A区

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/44 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/0985

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

许丹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省金华市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241129
2025-05-06	公开	公开

共 50 条

[21] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

蔡淳昊 ;

夏舟 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06

[22] PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

吕杰 ;

张晖 ;

万斌 .

中国专利 :CN118037663A ,2024-05-14

[23] 缺陷检测方法、系统、装置、计算机设备和存储介质 [P].

周扬 ;

蒋圆圆 ;

李睿宇 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN117788362A ,2024-03-29

[24] 图像缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

肖仁睿 ;

陈科 ;

向坤 ;

苏凌 ;

仇正兰 ;

王潇然 .

中国专利 :CN119494965A ,2025-02-21

[25] 对象缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

田倬韬 ;

王远 ;

易振彧 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN114494260B ,2022-05-13

[26] 目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P].

王永吉 ;

杨延竹 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN114882002A ,2022-08-09

[27] 目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P].

王永吉 ;

杨延竹 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN114882002B ,2025-01-10

[28] 产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119516261A ,2025-02-25

[29] 焊道缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

梁航 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119850544A ,2025-04-18

[30] 工业缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

张才明 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118446998A ,2024-08-06

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