共 50 条
光伏硅片缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202411742870.6
申请日:
2024-11-29
公开(公告)号:
CN119941618A
公开(公告)日:
2025-05-06
发明(设计)人:
杨天
金刚刚
任良为
金晨淦
李永伟
王春来
吴东阳
申请人:
横店集团东磁股份有限公司
申请人地址:
322118 浙江省金华市东阳市湖头陆工业区东A区
IPC主分类号:
G06T7/00
IPC分类号:
G06V10/25
G06V10/44
G06V10/80
G06V10/82
G06N3/045
G06N3/0464
G06N3/0985
代理机构:
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人:
许丹
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
浙江省
金华市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-05-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241129 |
2025-05-06 | 公开 | 公开 |