一种结构物位移测量系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421780288.4
申请日
2024-07-26
公开(公告)号
CN222822362U
公开(公告)日
2025-05-02
发明(设计)人
徐智 胡元君 但维
申请人
武汉智岩测控技术有限公司
申请人地址
430000 湖北省武汉市经济技术开发区海棠路55号联创科技中心1号楼乐客工场孵化器(集-LKGC-B302)
IPC主分类号
E02D33/00
IPC分类号
G01C5/00 G01C15/00
代理机构
北京达友众邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11904
代理人
宋亚军
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]   一种结构物位移测量系统 [P]. 
徐辉 ;
宋爽 ;
姚鸿梁 .
中国专利 :CN214199982U ,2021-09-14
[2]   一种结构物位移测量系统及其测量方法 [P]. 
徐辉 ;
宋爽 ;
姚鸿梁 .
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[3]   建筑物位移测量系统 [P]. 
石晶欣 ;
李飞 ;
刘辉 .
中国专利 :CN204718553U ,2015-10-21
[4]   一种视觉位移测量系统 [P]. 
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[5]   位移测量系统 [P]. 
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[6]   一种光学位移测量系统 [P]. 
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[9]   一种光栅尺位移测量系统 [P]. 
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[10]   一种视觉位移测量系统及方法 [P]. 
吴祖平 ;
谢金记 ;
邵元 ;
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张庭瑜 ;
李俊卓 ;
胡志刚 ;
韦永江 ;
张宇 ;
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中国专利 :CN118729962A ,2024-10-01