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一种结构物位移测量系统
被引:0
专利类型:
实用新型
申请号:
CN202421780288.4
申请日:
2024-07-26
公开(公告)号:
CN222822362U
公开(公告)日:
2025-05-02
发明(设计)人:
徐智
胡元君
但维
申请人:
武汉智岩测控技术有限公司
申请人地址:
430000 湖北省武汉市经济技术开发区海棠路55号联创科技中心1号楼乐客工场孵化器(集-LKGC-B302)
IPC主分类号:
E02D33/00
IPC分类号:
G01C5/00
G01C15/00
代理机构:
北京达友众邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11904
代理人:
宋亚军
法律状态:
授权
国省代码:
安徽省
宣城市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-05-02 | 授权 | 授权 |