一种红外探测器响应率非均匀性校正方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411611961.6

申请日：

2024-11-13

公开(公告)号：

CN119533679A

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

张轶游聪娅刘铭刘世光何温

申请人：

中国电子科技集团公司第十一研究所

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路4号

IPC主分类号：

G01J5/80

IPC分类号：

代理机构：

工业和信息化部电子专利中心 11010

代理人：

袁鸿

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/80申请日:20241113
2025-02-28	公开	公开

共 50 条

[21] 一种红外图像非均匀性校正方法及系统 [P].

周波 ;

梁琨 .

中国专利 :CN107255521B ,2017-10-17

[22] 一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法 [P].

路璐 ;

赵勋 ;

朱裕莎 ;

姜立涛 ;

黄安明 ;

曾衡东 .

中国专利 :CN115406542A ,2022-11-29

[23] 一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法 [P].

路璐 ;

赵勋 ;

朱裕莎 ;

姜立涛 ;

黄安明 ;

曾衡东 .

中国专利 :CN115406542B ,2025-06-27

[24] 红外热像仪非均匀性校正方法及校正系统 [P].

伍雁雄 .

中国专利 :CN116295867B ,2025-08-01

[25] 一种探测器非均匀校正方法和系统 [P].

蔡李靖 ;

黄尔齐 ;

邓智威 ;

字崇德 ;

陈林森 .

中国专利 :CN111998958A ,2020-11-27

[26] 用于红外探测器非均匀性校正的超构透镜阵列及方法 [P].

吴鑫 ;

辛雪倩 ;

黄曦 ;

刘德连 ;

程强 ;

张建奇 .

中国专利 :CN110455418A ,2019-11-15

[27] 一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法 [P].

黄晟 ;

刘坤 .

中国专利 :CN119104160A ,2024-12-10

[28] 红外热像仪探测器的非均匀性校正补偿件 [P].

黄立 ;

夏循龙 .

中国专利 :CN202928696U ,2013-05-08

[29] 一种长波光导红外探测器非均匀性校正电路 [P].

钟燕平 ;

袁红辉 ;

鞠国豪 .

中国专利 :CN107192464A ,2017-09-22

[30] 一种针对探测器像元响应率的非均匀校正装置及方法 [P].

黄立 ;

安凯 .

中国专利 :CN102768107A ,2012-11-07

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