一种用于纳米缺陷检测的贴片式超声调制量子成像系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411174139.8
申请日
2024-08-26
公开(公告)号
CN118688305B
公开(公告)日
2024-11-22
发明(设计)人
陈剑 田野 唐龙华 曾标峰 张梦茹 俞振炀 江涛 马旭菲
申请人
浙江大学
申请人地址
310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
IPC主分类号
G01N29/04
IPC分类号
G01N29/24
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人
林超
法律状态
公开
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
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