用于探测大气温度和密度廓线的临边散射探测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110738741.X

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113624640B

公开(公告)日：

2024-09-20

发明(设计)人：

王玉诏罗萍萍陶宇亮

申请人：

北京空间机电研究所

申请人地址：

100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱

IPC主分类号：

G01N9/24

IPC分类号：

G01K11/00

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

范晓毅

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	授权	授权

共 50 条

[41] 用于食材的温度探测装置 [P].

罗凯戈 .

中国专利 :CN221173665U ,2024-06-18

[42] 用于食材的温度探测装置 [P].

罗凯戈 ;

冯杰 .

中国专利 :CN119948323A ,2025-05-06

[43] 一种线阵探测装置及探测方法 [P].

陶晨斌 ;

郁凯峰 ;

方志强 .

中国专利 :CN109239791A ,2019-01-18

[44] 用于烟雾探测的装置和方法 [P].

B·R·格里菲斯 ;

L·LK·克斯特 ;

M·C·博安农 .

中国专利 :CN101765452A ,2010-06-30

[45] 用于中子探测的方法和装置 [P].

西蒙·菲利普·普拉特 ;

蔡晓晓 .

中国专利 :CN103842851B ,2014-06-04

[46] 供电电压探测装置和用于探测供电电压的方法 [P].

J·弗鲁赫特 .

:CN106796254B ,2024-02-02

[47] 用于高温冶炼炉的探测装置和探测方法 [P].

何成 ;

任旭 ;

曾岩东 ;

姬发奎 ;

肖述兵 .

中国专利 :CN118936333A ,2024-11-12

[48] 供电电压探测装置和用于探测供电电压的方法 [P].

J·弗鲁赫特 .

中国专利 :CN106796254A ,2017-05-31

[49] 一种光学元件体散射缺陷探测装置及探测方法 [P].

王凤蕊 ;

周晓燕 ;

林宏奂 ;

刘红婕 ;

邓青华 ;

石兆华 ;

卓瑾 ;

吴之清 ;

邵婷 ;

蒋晓东 ;

黄进 ;

叶鑫 ;

李青芝 ;

孙来喜 ;

夏汉定 .

中国专利 :CN108490598B ,2024-03-19

[50] 一种光学元件体散射缺陷探测装置及探测方法 [P].

王凤蕊 ;

周晓燕 ;

林宏奂 ;

刘红婕 ;

邓青华 ;

石兆华 ;

卓瑾 ;

吴之清 ;

邵婷 ;

蒋晓东 ;

黄进 ;

叶鑫 ;

李青芝 ;

孙来喜 ;

夏汉定 .

中国专利 :CN108490598A ,2018-09-04

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