设备评估方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111582106.3
申请日
2021-12-22
公开(公告)号
CN114253399B
公开(公告)日
2024-10-01
发明(设计)人
韩秉权 张运红 司峰 杨毅 刘国利
申请人
中国标准化研究院
申请人地址
100181 北京市海淀区知春路4号
IPC主分类号
G06F3/01
IPC分类号
G16H50/30 A61B5/16 A61B5/11 A61B3/06
代理机构
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300
代理人
蒋尧
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[21]   数据评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王雁 ;
万金伟 .
中国专利 :CN110189159A ,2019-08-30
[22]   自动评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
宋立明 .
中国专利 :CN115483966A ,2022-12-16
[23]   斑块评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王晓东 .
中国专利 :CN112419308A ,2021-02-26
[24]   数据评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈扬铭 .
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[25]   潜力评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
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王佳捷 ;
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[26]   数据评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
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雷士驰 .
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[30]   风险评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
程肯 .
中国专利 :CN115088007A ,2022-09-20