测量装置及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202280081878.5
申请日
2022-10-12
公开(公告)号
CN118382794A
公开(公告)日
2024-07-23
发明(设计)人
中村共则
申请人
浜松光子学株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
G01N21/27
IPC分类号
H04N23/45 H04N23/50 H04N23/56
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
杨琦;梁策
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[21]   测量装置及测量方法 [P]. 
新妻祐希 ;
上沢贵秋 ;
樱井胜夫 ;
福田一成 ;
佐野朋哉 .
日本专利 :CN114793139B ,2024-08-13
[22]   测量装置及测量方法 [P]. 
刘庆芳 ;
吴挺 .
中国专利 :CN109106004A ,2019-01-01
[23]   测量方法及测量装置 [P]. 
陈晶晶 .
中国专利 :CN118540731A ,2024-08-23
[24]   测量装置及测量方法 [P]. 
施向舟 .
中国专利 :CN110986858A ,2020-04-10
[25]   测量装置及测量方法 [P]. 
赵春波 ;
毕远见 ;
齐佳萍 ;
徐放 .
中国专利 :CN114166098A ,2022-03-11
[26]   测量装置及测量方法 [P]. 
犬塚真博 .
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[27]   测量装置及测量方法 [P]. 
崔志坚 ;
杜继臻 ;
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吴志祥 ;
吴长青 .
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[28]   测量装置及测量方法 [P]. 
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顾翔 ;
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王旭峰 ;
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[29]   测量装置及测量方法 [P]. 
青木和典 .
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[30]   测量装置及测量方法 [P]. 
魏祥野 ;
修黎明 .
中国专利 :CN111642140A ,2020-09-08