测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280081878.5

申请日：

2022-10-12

公开(公告)号：

CN118382794A

公开(公告)日：

2024-07-23

发明(设计)人：

中村共则

申请人：

浜松光子学株式会社

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01N21/27

IPC分类号：

H04N23/45 H04N23/50 H04N23/56

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦;梁策

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/27申请日:20221012
2024-07-23	公开	公开

共 50 条

[1] 测量装置及测量方法 [P].

大岛伸一 ;

伊势居良仁 .

中国专利 :CN113287038B ,2021-08-20

[2] 测量装置及测量方法 [P].

大石政裕 ;

峰岸功 .

中国专利 :CN101273282A ,2008-09-24

[3] 光声物性测量装置及测量方法 [P].

高武直弘 ;

小野豪一 ;

片岸诚 ;

土井秀明 ;

白水信弘 .

日本专利 :CN117561442A ,2024-02-13

[4] TSV测量装置及测量方法 [P].

黄映珉 ;

金星龙 ;

赵泰英 .

中国专利 :CN105164518B ,2015-12-16

[5] 测量装置、测量程序及测量方法 [P].

笠健太郎 .

中国专利 :CN115493498A ,2022-12-20

[6] 测量方法及测量装置 [P].

富田晓 ;

平田教行 .

日本专利 :CN118335721A ,2024-07-12

[7] 测量装置及测量方法 [P].

新妻祐希 ;

上沢贵秋 ;

樱井胜夫 ;

福田一成 ;

佐野朋哉 .

中国专利 :CN114793139A ,2022-07-26

[8] 测量装置及测量方法 [P].

富泽亮太 ;

足立佳久 ;

岩井敬文 ;

江户勇树 ;

小川莉绘子 .

中国专利 :CN114302674A ,2022-04-08

[9] 测量装置及测量方法 [P].

蔡宗轩 ;

翁志伟 ;

邱志鸿 ;

邱启瑞 ;

林嵩哲 ;

庄亚欣 .

中国专利 :CN112137623B ,2024-08-06

[10] 测量装置及测量方法 [P].

青木和典 .

中国专利 :CN103344803B ,2013-10-09

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