缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410548766.7

申请日：

2024-05-06

公开(公告)号：

CN118411347A

公开(公告)日：

2024-07-30

发明(设计)人：

朱闻博惠宝军罗向源赵林杰陈喜鹏朱文滔傅明利张鹏陈林昊侯帅冯宾展云鹏陈云陈铸成张鸣张俊孙钦章

申请人：

南方电网科学研究院有限责任公司广东电网有限责任公司佛山供电局

申请人地址：

510700 广东省广州市黄埔区科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/13 G06T5/70 G06T5/90 G01N21/88

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

谢曲曲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省广州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240506
2024-07-30	公开	公开

共 50 条

[41] PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李泉洲 ;

胡宁 ;

蒋诗新 ;

刘振国 ;

郑清文 .

中国专利 :CN117557538A ,2024-02-13

[42] 表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P].

江志坚 ;

王劦 ;

吴小彬 .

中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05

[43] 差速器壳体缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

洪琦 ;

刘彦超 ;

李欣蓓 ;

孙博 ;

赵雨龙 .

中国专利 :CN119643554A ,2025-03-18

[44] 高亮面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

葛俊辉 ;

丁凡 ;

沈小龙 ;

邓文平 .

中国专利 :CN117522850A ,2024-02-06

[45] 缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质 [P].

刘学文 ;

葛俊辉 ;

杨东 ;

沈小龙 ;

张兆威 .

中国专利 :CN119006464B ,2025-01-24

[46] 缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质 [P].

刘学文 ;

葛俊辉 ;

杨东 ;

沈小龙 ;

张兆威 .

中国专利 :CN119006464A ,2024-11-22

[47] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697A ,2025-03-04

[48] 点状缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

姚恒志 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 ;

王松 .

中国专利 :CN116645374B ,2024-03-22

[49] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08

[50] 缺陷检测方法和计算机设备 [P].

张旭 ;

朱龙 ;

孙天齐 .

中国专利 :CN117830257A ,2024-04-05

← 1 2 3 4 5 →