基于半波片的衍射光栅外差干涉滚转角测量方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410892706.7
申请日
2024-07-04
公开(公告)号
CN118758217A
公开(公告)日
2024-10-11
发明(设计)人
汤善治 张霄猛 于海涵 何天 杨嘉乐
申请人
中国科学院高能物理研究所
申请人地址
100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)
IPC主分类号
G01B11/26
IPC分类号
G01B9/02
代理机构
北京君尚知识产权代理有限公司 11200
代理人
司立彬
法律状态
公开
国省代码
北京市
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共 50 条
[41]   一种基于外差干涉结构的光纤加速度传感器及测量方法 [P]. 
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[42]   测量三维振动与声场旋转特性的涡旋光干涉装置及方法 [P]. 
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陆传雨 ;
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徐晓东 ;
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[43]   基于多目标对向位移测量的外差干涉仪及测量方法 [P]. 
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[45]   双频激光外差干涉相位测量大尺寸光学平面的装置及方法 [P]. 
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[46]   基于多目标对向位移测量的外差干涉仪及测量方法 [P]. 
付海金 ;
苏晓博 ;
于亮 ;
胡鹏程 ;
潘曌晨 ;
王智伟 .
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魏一振 ;
李彬彬 ;
张卓鹏 .
中国专利 :CN118565777A ,2024-08-30
[49]   一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置 [P]. 
陈飞鸿 ;
陈挺 ;
余丽敏 ;
詹聪聪 ;
魏一振 ;
李彬彬 ;
张卓鹏 .
中国专利 :CN118565777B ,2024-10-25
[50]   光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 [P]. 
刘世杰 ;
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