共 50 条
基于半波片的衍射光栅外差干涉滚转角测量方法及装置
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202410892706.7
申请日:
2024-07-04
公开(公告)号:
CN118758217A
公开(公告)日:
2024-10-11
发明(设计)人:
汤善治
张霄猛
于海涵
何天
杨嘉乐
申请人:
中国科学院高能物理研究所
申请人地址:
100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)
IPC主分类号:
G01B11/26
IPC分类号:
G01B9/02
代理机构:
北京君尚知识产权代理有限公司 11200
代理人:
司立彬
法律状态:
公开
国省代码:
北京市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2024-10-11 | 公开 | 公开 |
2024-10-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/26申请日:20240704 |