时间间隔测量方法、芯片及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211568506.3
申请日
2022-12-08
公开(公告)号
CN116107187B
公开(公告)日
2024-05-31
发明(设计)人
许钟子珩 胡金春
申请人
清华大学
申请人地址
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
G04F10/00
IPC分类号
代理机构
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
颜潇
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[21]   一种芯片、芯片工艺角的测量方法及装置 [P]. 
亓磊 .
中国专利 :CN113295986A ,2021-08-24
[22]   异频测量的测量时间确定方法和装置及异频测量方法 [P]. 
尹丽燕 .
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[23]   高精度时间间隔测量装置 [P]. 
易春林 ;
冯伟 ;
狄长安 ;
孔德仁 ;
张朗 ;
周涛 ;
吕永柱 ;
谷鸿平 ;
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[24]   一种基于多次采样的时间间隔测量方法 [P]. 
金硕巍 ;
柴佳欣 ;
李晶皎 ;
闫爱云 ;
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[25]   激光雷达的飞行时间测量方法及装置 [P]. 
赵光再 ;
冯杰 ;
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[26]   基于异频测量的测量时间确定方法及异频测量方法 [P]. 
尹丽燕 .
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[27]   一种时间间隔测量系统及方法 [P]. 
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[28]   一种基于FPGA的高精度时间间隔测量方法及系统 [P]. 
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[29]   一种时间间隔测量装置 [P]. 
范凤军 ;
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[30]   测量尺及测量方法 [P]. 
余阳 .
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