辐照测量仪平面光照度采集板

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202330669321.0

申请日：

2023-10-17

公开(公告)号：

CN308529149S

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

张国祥王超

申请人：

深圳市永成光电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区沙井街道芙蓉工业区芙蓉一路西第三栋厂房

IPC主分类号：

10-04

IPC分类号：

代理机构：

深圳市优一知识产权代理事务所(普通合伙) 44522

代理人：

蔡德晟

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	授权	授权

共 50 条

[41] 墙体平面度测量仪支架 [P].

刘伟 .

中国专利 :CN203784589U ,2014-08-20

[42] 外套圈平面度测量仪 [P].

张辅忠 .

中国专利 :CN102607384A ,2012-07-25

[43] 多触点平面度测量仪 [P].

何兰英 ;

袁东林 ;

郑细赠 ;

刘慧新 ;

邓秋菊 .

中国专利 :CN209655998U ,2019-11-19

[44] 外套圈平面度测量仪 [P].

张辅忠 .

中国专利 :CN202599321U ,2012-12-12

[45] 工程用平面度测量仪 [P].

奚晓嬿 ;

陈贤 .

中国专利 :CN203349770U ,2013-12-18

[46] 全自动平面度测量仪 [P].

彭雄良 .

中国专利 :CN205079748U ,2016-03-09

[47] 平面角度测量仪 [P].

薛提微 .

中国专利 :CN103196352A ,2013-07-10

[48] 平面角度测量仪 [P].

薛提微 .

中国专利 :CN203216481U ,2013-09-25

[49] 三点平面测量仪 [P].

韦佳 .

中国专利 :CN201368721Y ,2009-12-23

[50] 光谱型太阳辐射照度测量仪 [P].

曹彦波 ;

吕文华 ;

于爱民 ;

费强 ;

宋大千 ;

陈保卫 ;

曹博成 .

中国专利 :CN103207016B ,2013-07-17

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