一种基于统计特性的红外图像非均匀性校正方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311503849.6

申请日：

2023-11-13

公开(公告)号：

CN117553924A

公开(公告)日：

2024-02-13

发明(设计)人：

孙德新李丹丹柴孟阳马超

申请人：

中国科学院上海技术物理研究所

申请人地址：

200083 上海市虹口区玉田路500号

IPC主分类号：

G01J5/90

IPC分类号：

代理机构：

杭州天勤知识产权代理有限公司 33224

代理人：

彭剑

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/90申请日:20231113
2024-02-13	公开	公开

共 50 条

[21] 红外图像非均匀性校正方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈熠钦 ;

陈霖宇 ;

王一帆 .

中国专利 :CN118037607A ,2024-05-14

[22] 红外图像非均匀性校正方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈熠钦 ;

陈霖宇 ;

王一帆 .

中国专利 :CN118037607B ,2024-12-31

[23] 图像非均匀噪声的校正方法及装置 [P].

秦翰林 ;

王冠华 ;

田超世 ;

吴轩宇 ;

吴朝晖 ;

赵昱坤 ;

胡岩昊 ;

李居柳 .

中国专利 :CN120339103A ,2025-07-18

[24] 基于统计约束模型的线阵扫描图像非均匀性校正方法 [P].

舒嵘 ;

孙凡 ;

马艳华 .

中国专利 :CN100432697C ,2006-09-20

[25] 一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法 [P].

张天序 ;

杨超 ;

张春晓 ;

桑红石 ;

颜露新 ;

袁雅婧 ;

刘慧娜 ;

施长城 .

中国专利 :CN101776487A ,2010-07-14

[26] 一种基于探测器温度的红外图像非均匀性校正方法及系统 [P].

梁琨 ;

杨彩兰 ;

周波 ;

蔡骏 ;

雷伟 ;

樊启明 .

中国专利 :CN105737990B ,2016-07-06

[27] 一种红外热像仪图像非均匀校正方法及装置 [P].

孙宪中 ;

李军伟 ;

雷浩 ;

张亚洲 .

中国专利 :CN111598815A ,2020-08-28

[28] 基于在轨推扫的红外图像的非均匀校正方法、装置、系统及应用 [P].

张丽莎 ;

龙亮 ;

赵号 ;

封宇航 ;

粘伟 ;

王哲 ;

吴立民 .

中国专利 :CN109186777A ,2019-01-11

[29] 红外热像仪非均匀性校正方法及校正系统 [P].

伍雁雄 .

中国专利 :CN116295867B ,2025-08-01

[30] 一种基于字典学习的沥青红外图像非均匀性校正方法 [P].

赵勋 ;

许飞云 ;

薛力戈 ;

胡建中 ;

贾民平 ;

黄鹏 .

中国专利 :CN115147292B ,2025-04-29

← 1 2 3 4 5 →