一种基于统计特性的红外图像非均匀性校正方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311503849.6
申请日
2023-11-13
公开(公告)号
CN117553924A
公开(公告)日
2024-02-13
发明(设计)人
孙德新 李丹丹 柴孟阳 马超
申请人
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址
200083 上海市虹口区玉田路500号
IPC主分类号
G01J5/90
IPC分类号
代理机构
杭州天勤知识产权代理有限公司 33224
代理人
彭剑
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]   红外图像非均匀性校正方法及装置 [P]. 
姜志富 .
中国专利 :CN105716720B ,2016-06-29
[2]   一种红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
宋乐 ;
白捷仁 ;
宋佳 .
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[3]   一种红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
隋修宝 ;
匡小冬 ;
陈钱 ;
顾国华 ;
陶远荣 ;
刘源 ;
潘科辰 ;
赵耀 ;
沈雪薇 .
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[4]   一种基于斩波器的红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
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周津 ;
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[5]   一种基于场景的红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
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邬昌明 ;
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[6]   红外图像的非均匀校正方法 [P]. 
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[7]   一种红外图像非均匀性校正方法及系统 [P]. 
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[8]   用于红外图像非均匀性校正的模型训练方法及校正方法 [P]. 
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[9]   一种红外图像的非均匀性校正方法及装置 [P]. 
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[10]   基于fpga的红外图像非均匀性校正方法及系统 [P]. 
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张磊 .
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