一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410323960.1
申请日
2014-07-08
公开(公告)号
CN104101430A
公开(公告)日
2014-10-15
发明(设计)人
张雪静 景娟娟 周锦松 李雅灿 付锡禄 冯蕾 曾晓茹
申请人
申请人地址
100080 北京市海淀区中关村东路95号
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
代理机构
北京凯特来知识产权代理有限公司 11260
代理人
郑立明;郑哲
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]   成像光谱仪绝对辐射定标方法 [P]. 
范纪红 ;
占春连 ;
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[2]   一种哈达玛变换成像光谱仪的辐射度绝对定标方法 [P]. 
王爽 ;
胡炳樑 ;
李立波 ;
陈小来 ;
李思远 ;
汲玉卓 ;
于涛 .
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[3]   推扫式成像光谱仪全视场光谱定标装置 [P]. 
孙慈 ;
巴音贺希格 ;
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崔继承 ;
唐玉国 ;
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[4]   一种推扫型成像光谱仪 [P]. 
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曹佳宝 ;
刘业林 ;
张卓 .
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[5]   一种推扫型成像光谱仪 [P]. 
陈兴海 ;
曹佳宝 ;
刘业林 ;
张卓 .
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[6]   一种推扫型成像光谱仪 [P]. 
张明兴 .
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[7]   一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置 [P]. 
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[8]   推扫式成像光谱仪的波长定标方法及系统 [P]. 
孙慈 ;
王明佳 ;
崔继承 ;
杨晋 ;
冯树龙 ;
李天骄 ;
宋楠 ;
姚雪峰 .
中国专利 :CN107631798A ,2018-01-26
[9]   一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法 [P]. 
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[10]   一种干涉型成像光谱仪的光谱定标方法 [P]. 
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