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一种基于微波辐射计天线温度检测的亮温订正方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201910772420.4
申请日:
2019-08-21
公开(公告)号:
CN110455416B
公开(公告)日:
2019-11-15
发明(设计)人:
安大伟
张志清
申请人:
申请人地址:
100081 北京市海淀区中关村南大街46号
IPC主分类号:
G01J500
IPC分类号:
代理机构:
北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639
代理人:
王民盛
法律状态:
授权
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2020-06-12 | 授权 | 授权 |
2019-11-15 | 公开 | 公开 |
2019-12-10 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20190821 |