位移测量方法和位移测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201180017720.3
申请日
2011-03-28
公开(公告)号
CN102834690A
公开(公告)日
2012-12-19
发明(设计)人
小山胜弘 池田正人
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01B1100
IPC分类号
B62M680 F16D6600 G01B1116
代理机构
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
陈伟;孟祥海
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
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