共 50 条
位移测量方法和位移测量装置
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201180017720.3
申请日:
2011-03-28
公开(公告)号:
CN102834690A
公开(公告)日:
2012-12-19
发明(设计)人:
小山胜弘
池田正人
申请人:
申请人地址:
日本东京都
IPC主分类号:
G01B1100
IPC分类号:
B62M680
F16D6600
G01B1116
代理机构:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人:
陈伟;孟祥海
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2013-02-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101391739906 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2011800177203 申请日:20110328 |
2015-11-25 | 授权 | 授权 |
2012-12-19 | 公开 | 公开 |
2022-03-11 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20110328 授权公告日:20151125 终止日期:20210328 |