搭建测试环境的方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910648542.2

申请日：

2019-07-18

公开(公告)号：

CN110532170A

公开(公告)日：

2019-12-03

发明(设计)人：

付延鹏

申请人：

申请人地址：

100010 北京市东城区安定门东大街28号2号楼609

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京恒博知识产权代理有限公司 11528

代理人：

于利晓

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20190718
2019-12-03	公开	公开

共 50 条

[41] 测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24

[42] 测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

程江民 ;

韩俊 .

中国专利 :CN114185811A ,2022-03-15

[43] 系统测试的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吴贵丹 ;

杨万强 ;

邹丽海 .

中国专利 :CN117851225A ,2024-04-09

[44] 业务模型的搭建方法、装置、电子设备及介质 [P].

董绪文 .

中国专利 :CN112433821B ,2021-03-02

[45] 内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P].

余玉 .

中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18

[46] CBTC系统的测试环境配置方法、装置以及电子设备 [P].

智茹 ;

刘斌 ;

杨鹏 ;

王瑞芬 .

中国专利 :CN114281675A ,2022-04-05

[47] 测试验证环境的搭建方法、测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序产品 [P].

李建峰 ;

马成海 ;

张成斌 ;

蒋雪凝 .

中国专利 :CN118862818A ,2024-10-29

[48] 环境展示方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

张释方 ;

韩伟 .

中国专利 :CN118377367A ,2024-07-23

[49] 环境光检测方法、装置、电子设备及介质 [P].

陈可欣 .

中国专利 :CN120521721A ,2025-08-22

[50] 测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P].

刘孙春 .

中国专利 :CN118694840A ,2024-09-24

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