大平片光谱测试仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210081417.6
申请日
2012-03-23
公开(公告)号
CN102621087B
公开(公告)日
2012-08-01
发明(设计)人
冯迈东
申请人
申请人地址
201103 上海市闵行区虹中路645号2号楼4楼
IPC主分类号
G01N2131
IPC分类号
代理机构
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227
代理人
吴泽群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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