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大平片光谱测试仪
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201210081417.6
申请日:
2012-03-23
公开(公告)号:
CN102621087B
公开(公告)日:
2012-08-01
发明(设计)人:
冯迈东
申请人:
申请人地址:
201103 上海市闵行区虹中路645号2号楼4楼
IPC主分类号:
G01N2131
IPC分类号:
代理机构:
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227
代理人:
吴泽群
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2012-09-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101329748293 IPC(主分类):G01N 21/31 专利申请号:2012100814176 申请日:20120323 |
2014-03-26 | 授权 | 授权 |
2012-08-01 | 公开 | 公开 |