大平片光谱测试仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210081417.6
申请日
2012-03-23
公开(公告)号
CN102621087B
公开(公告)日
2012-08-01
发明(设计)人
冯迈东
申请人
申请人地址
201103 上海市闵行区虹中路645号2号楼4楼
IPC主分类号
G01N2131
IPC分类号
代理机构
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227
代理人
吴泽群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]   大平片光谱测试仪 [P]. 
冯迈东 .
中国专利 :CN202512054U ,2012-10-31
[2]   大平片光谱测试仪的光学系统 [P]. 
冯迈东 .
中国专利 :CN202512053U ,2012-10-31
[3]   大平片光谱测试仪的光学系统 [P]. 
冯迈东 .
中国专利 :CN102621086A ,2012-08-01
[4]   光谱测试仪 [P]. 
许玉辰 .
中国专利 :CN309409631S ,2025-07-29
[5]   光谱测试仪 [P]. 
闫超 .
中国专利 :CN303770575S ,2016-08-03
[6]   光谱分布测试仪 [P]. 
孟祥全 .
中国专利 :CN212903531U ,2021-04-06
[7]   频闪光谱测试仪 [P]. 
许玉辰 .
中国专利 :CN309409599S ,2025-07-29
[8]   测试仪 [P]. 
岳朝风 .
中国专利 :CN105571780A ,2016-05-11
[9]   测试仪 [P]. 
李官芳 .
中国专利 :CN111238727A ,2020-06-05
[10]   测试仪 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN104807597A ,2015-07-29