电流检测电路以及半导体集成电路装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201280063027.4
申请日
2012-12-11
公开(公告)号
CN104011551A
公开(公告)日
2014-08-27
发明(设计)人
柳生启佑 梅谷和弘
申请人
申请人地址
日本爱知县
IPC主分类号
G01R1900
IPC分类号
代理机构
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
王英;陈松涛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]   电流检测电路以及电源用半导体集成电路 [P]. 
上田裕一 ;
高畠义生 .
日本专利 :CN119960540A ,2025-05-09
[2]   半导体集成电路装置 [P]. 
寺田忠平 ;
高野阳一 .
日本专利 :CN118432593A ,2024-08-02
[3]   半导体集成电路装置 [P]. 
高野阳一 .
中国专利 :CN114597202A ,2022-06-07
[4]   半导体集成电路 [P]. 
竹内淳 .
中国专利 :CN1307720C ,2005-11-30
[5]   半导体集成电路 [P]. 
山本康介 .
日本专利 :CN118214405A ,2024-06-18
[6]   半导体集成电路 [P]. 
濑川智贵 .
中国专利 :CN115413088A ,2022-11-29
[7]   检测电路、接收电路以及半导体集成电路 [P]. 
中村辽一郎 ;
加纳英树 .
日本专利 :CN117355942A ,2024-01-05
[8]   半导体集成电路以及包括该半导体集成电路的各种装置 [P]. 
后藤哲治 ;
山本裕雄 .
中国专利 :CN101682325A ,2010-03-24
[9]   检测电路、半导体集成电路、半导体装置以及控制方法 [P]. 
仁藤与晴 ;
大高章二 ;
田垄礼二 .
日本专利 :CN119817036A ,2025-04-11
[10]   半导体集成电路装置 [P]. 
池永佳史 ;
武田晃一 ;
野村昌弘 .
中国专利 :CN1790912A ,2006-06-21